清华华大学获得学士、硕士及博士学位后留校任教，现为曼彻斯特大学教授，IEEE FELLOW。主要研究领域为工业过程成像，尤其是电容层析成像，图像重建，传感及数据采集系统，电子电路设计，仪器及多相流测量。杨教授为特许工程师，英国IET会士，InstMC会士，IEEE高级会员。已发表250余篇学术论文，包括30多篇综述性期刊文章。是5所大学/机构的客座教授/科学顾问，4个国际期刊杂志的编委。1997年曾荣获IEE测量仪器奖，测量与控制协会的Honeywell奖，2000年获得IEE Ayrton Premium，2009年获得IET Innovation Award提名奖。法国科学研究国际中心认定他为世界上30位顶尖技术研究人员之一。2010起，他被推举为IEEE仪器与测量协会的杰出报告人。